Tuoteryhmät > XRF-analysaattorit > TERRA, kannettava XRD-analysaattori

kannettava terra xrd - alkuaineiden ja mineraalien tunnistukseen

Kannettava TERRA XRD - ALKUAINEIDEN JA MINERAALIEN TUNNISTUKSEEN 

TERRA on akkukäyttöinen, täysin koteloitu ja suorituskyvyltään erinomainen kenttäanalysaattori. Laite mahdollistaa kvalitatiivisen alkuaineiden ja mineraalien tunnistuksen laajalla pitoisuusalueella (Ca-U). Sen ainutkertainen, vähäinen näytteen esikäsittelymenetelmä ja näytekammio mahdollistava nopean kenttätutkimuksen luotettavasti ja nopeasti. 

Patentoitua teknologiaa NASALTA JA OLYMPUKSELTA

Alunperin NASA:n Mars -tutkimuslaboratorio-olosuhteisiin kehitetty TERRA -laitetta oli käytössä avaruustutkimuksen kemiallisissa ja minerologisissa tutkimuksissa. Lujatekoisen ja kenttäkäyttöön erinomaisesti soveltuvan TERRAn toiminta perustuu XRF- ja XRD -teknologioiden onnistuneeseen yhdistämiseen. Mars -tutkimuksesta saatujen kokemusten perusteella laajeni laitteen käyttö myös maanpäällisiin tutkimuksiin. NASA:n että OLYMPUKSEN innovaatiot yhdistävä TERRA tuo uuden tavan suorittaa XRF- ja XRD-mittauksia kenttäolosuhteissa. 

Laite tunnistaa yhtäaikaisesti sekä XRF- että XRD-datan; tämä onnistuu hyödyntämällä TERRA-analysaattoriin erityisesti kehitettyä versiota CCD-kamerasta. Kameralla on kyky havaita samanaikaisestisekä sekä fotonin paikkatieto että sen energiataso. Noin ~200 eV (5.9 keV) energiaresoluutiolla toimiva TERRA laatii tuloksista helppolukuisen spektrin. 

HELPPO NÄYTTEEN VALMISTELU

TERRA yksinkertaistaa radikaalisti XRD-testeihin tarvitsemiesi näytteiden kokoamisen. Tyypillinen XRD-näyte on hienoksi jauhettu ja pelletiksi puristettu näyte, jossa riittävällä tasolla varmistetaan kristallien sattumanvarainen suuntautuminen. 

TERRAn patentoitu näytteenravistelukammio poistaa em. valmisteluvaiheen. Vaatien vaivaiset 15 mg näytettä, värinäkammion konvektio suuntaa laitteen optiikan useista eri suunnista näytteen kristallisoituneeseen rakenteeseen. Tämä saa aikaan huippuluokan XRD-mallin, jota ei häiritse perinteiselle näytteen esikäsittelylle ominaiset ja toisinaan ongelmalliset, toivottuina pidetyt näytteen suuntaamisvalinnat.

 

Ota yhteyttä